表面粗糙度测量功能• 高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。• X轴内置高精度玻璃光栅尺,直接读取X轴移动距离,在高精度**定位下,完成间距参数的评价。• 检出器测力有4mN和0.75mN可选。轮廓测量功能• Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹,以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比,新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm 同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件,单此接触就能完成测臂的装卸,提高了易用性。• 专为SV-C-4500系列增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的专用功能。(1) 装配双锥面测针,实现垂直方向(上/下)连续测量,所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。(2) 测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。无需调整配重。• 表面粗糙度/轮廓FORMTRACEPAK分析程序,通过简单的操作就能进行高级分析并即刻输出结果。• 表面粗糙度测试仪和轮廓测量仪结合在一起,节省安装空间。
三丰粗糙度仪配有多种参数。评估型表面粗糙度测量仪同时配置分析功能。• 装置配备FORMTRACEPAK表面粗糙度/轮廓分析程序。• 标配高分辨率的Z1轴检出器,显示分辨力为0.0001μm (测量范围为8μm时)。Z1轴的显示分辨力为0.0001μm (测量范围为8μm时)。• X轴驱动装置装配高精度玻璃光栅尺,实现X轴方向移动的高精确定位。三丰粗糙度仪SV-3100系列为驱动装置采用陶瓷导轨以提高抗磨性,延长使用寿命。• X轴的分辨力为0.05μm。• 标准或低测力检出器(4mn/0.75mN)的选择,无需考虑设备本体是否有装配倾斜装置。注: 虽然天然石材测量桌的外观各有不同,但材料的稳定性是值得信赖的。*1: 手动操作也可用。